該款霧度計(jì)測(cè)試儀是硅芯創(chuàng)在原樣機(jī)的基礎(chǔ)上二次開發(fā)而研制的，我公司擁有豐富的PCB抄板與仿制克隆經(jīng)驗(yàn)。并利用國(guó)外各種先進(jìn)的設(shè)備進(jìn)行芯片解密，PCB抄板定位分析，外形模具仿制設(shè)計(jì)，組裝測(cè)試及樣機(jī)調(diào)試等，作為領(lǐng)跑者，從未被超越。滿足您的各項(xiàng)需求，以下是霧度計(jì)測(cè)試儀的介紹： 
儀器介紹：  
1、滿足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三種標(biāo)準(zhǔn)照明光源下的霧度與全透過率測(cè)量  
2、滿足補(bǔ)償法測(cè)試，可提供更準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。  
3、擁有開放式的測(cè)量區(qū)域，可以滿足任意大小的樣品測(cè)量。  
4、采用5.0寸TFT顯示屏，擁有良好的人機(jī)交互界面。  
5、擁有豎放和橫放兩種放置狀態(tài)，方便樣品放置  
6、采用LED光源，壽命長(zhǎng)，十年無(wú)需更換  
7、無(wú)需預(yù)熱，開機(jī)校準(zhǔn)后即可測(cè)試，測(cè)試用時(shí)時(shí)間短，3秒即可  
8、體積小，重量輕，方便攜帶  
產(chǎn)品參數(shù)：http://dafengoo.cn    
光源:CIE-A、CIE-C、CIE-D65    
遵循標(biāo)準(zhǔn):ASTM D1003/D1044，ISO13468/ISO14782，JIS K 7105，JIS K 7361，JIS K 7136，GB/T 2410-08    
測(cè)量參數(shù):霧度（HAZE）,透過率（T）    
光譜響應(yīng):CIE光譜函數(shù)Y/V(λ)    
光路結(jié)構(gòu):0/d    
照明與樣品孔徑尺寸:16.5mm/21mm    
量程:0-100%    
霧度分辨率:0.01單位    
透過率分辨率:0.01單位    
霧度重復(fù)性:霧度值＜10%，重復(fù)性≤0.05%；霧度值≥10%，重復(fù)性≤0.1%    
透過率重復(fù)性:≤0.1單位    
樣品大小:厚度≤150mm    
存儲(chǔ)數(shù)據(jù):20000個(gè)數(shù)值    
接口:USB接口    
電源:DC24V    
工作溫度:+10 – 40 °C (+50 – 104 °F)    
儲(chǔ)藏溫度:0 – 50 °C (+32 – 122 °F)    
體積:長(zhǎng)X寬X高：310mmX215mmX540mm    
可選配件:霧度標(biāo)準(zhǔn)片、測(cè)量夾具 
深圳硅芯創(chuàng)科技從單片機(jī)解密、電路板抄板、PCB設(shè)計(jì)、電路板打樣、電路板焊接到電子產(chǎn)品的整機(jī)克隆、功能修改、軟硬件開發(fā)以及成品加工。我司提供全程技術(shù)支持與詳細(xì)解決方案。欲知詳情者，歡迎來(lái)電垂詢！ http://dafengoo.cn